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2021-01-26
動(dòng)態(tài)熱機(jī)械法是在程序控制溫度下，測量物質(zhì)在振動(dòng)負(fù)荷下的動(dòng)態(tài)模量和阻尼與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。DMA可用于測量材料變形時(shí)所存儲(chǔ)和消耗的機(jī)械能。例如如果一個(gè)材料收到變形并且接著解除變形，那么一部分貯存的變形能要回復(fù)，這是材料的基本特性，即材料產(chǎn)生阻尼振動(dòng)。對于理想的彈性體，振動(dòng)的能量是與變形時(shí)加入的能量相等的。而大多數(shù)材料并不顯示出理想的彈性特性，所顯示出的是一種黏彈特性。其一部分變形能是以其他形式能量（如熱能）消耗的，這種能量消耗的趨向越大，由變形引起的振動(dòng)阻尼也越大。在DMA測...2021-01-26
高溫四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的阻抗特性測量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫測試平臺(tái)、高溫四探針夾具、電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。測試應(yīng)用范圍高溫四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合...2021-01-25
鐵電存儲(chǔ)器的核心是鐵電存儲(chǔ)單元，我們鐵電存儲(chǔ)器的絕大部分電路都是圍繞著存儲(chǔ)單元來設(shè)計(jì)的。而鐵電存儲(chǔ)器除了存儲(chǔ)單元組成的存儲(chǔ)陣列外，一般還包括以下幾個(gè)模塊：譯碼電路、控制邏輯電路、靈敏放大器模塊、ECC模塊、數(shù)據(jù)通路、地址通路等。下面將結(jié)合圖2-7說明各個(gè)模塊的作用。譯碼電路是任何存儲(chǔ)芯片都必須的一種電路結(jié)構(gòu)，它用于將每一個(gè)地址變成One-hot（一位有效）的控制信號(hào)來控制存儲(chǔ)單元。由于存儲(chǔ)單元在陣列中呈矩形陣列式排布，必須有一個(gè)譯碼模塊來將存儲(chǔ)單元進(jìn)行定位，目的是讓外部控制邏...2021-01-25
隨著科學(xué)技術(shù)的迅速發(fā)展以及對新材料的物理和化學(xué)性能研究的迫切需要，熱分析方法取得了很快的進(jìn)展，已相繼研制出測量物質(zhì)各種性質(zhì)的熱分析方法，包括熱機(jī)械分析（TMA）、動(dòng)態(tài)熱機(jī)械法（DMA）、逸出氣體分析（EGA）、熱光學(xué)法、熱發(fā)聲法、放射熱分析和熱逸出水分分析等。這里簡要介紹熱機(jī)械分析法。許多無機(jī)、有機(jī)和高分子材料的性能往往與它們的熱（或力學(xué)）歷史密切相關(guān)。雖然這些材料的形成和加工處理時(shí)的熱性質(zhì)可用DTA和DSC進(jìn)行研究，但是這兩種方法在檢測極為微小的熱變化時(shí)還不夠靈敏。在這種情...2021-01-22
具有鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的氧化物鐵電體（通式為ABO3，其中A,B為金屬離子），是數(shù)量多而且應(yīng)用廣的一種無機(jī)鐵電體[7-8]。如圖1.2所示，鈣鈦礦結(jié)構(gòu)的特征：以B位金屬陽離子為中心的氧八面體共頂點(diǎn)并相互連接，再鑲嵌在一個(gè)以A位金屬離子為頂點(diǎn)的四方體中。A、B位上的金屬陽離子，可以代表單一離子或多種離子，被單一離子占據(jù)稱為簡單鈣鈦礦，若被多鐘離子占據(jù)則稱為復(fù)合鈣鈦礦。由于占據(jù)A、B位離子的種類及其半徑會(huì)有所差異，因此鈣鈦礦氧化物的特征及性能也是各有千秋。人們*早發(fā)現(xiàn)的一種鈣鈦礦鐵電體是...2021-01-22
為了能得到j(luò)ing確的數(shù)據(jù)，即使對于那些jing確度相當(dāng)高的DSC儀，也必須經(jīng)常進(jìn)行溫度和量熱的校核。接下來我們主要了解一下溫度校正的方法。與DTA一樣，DSC的溫度也是用高純物愛的熔點(diǎn)或相變溫度進(jìn)行校核的。關(guān)于溫度校核標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)可參見表4.1-5。在實(shí)際測量中要獲得jing確度高的溫度值，還必須采取下列措施：①確定熔點(diǎn)的方法。DSC的溫度通常是以高純銦進(jìn)行校核的，其熔點(diǎn)應(yīng)為吸熱峰的前沿切線與基線的相交點(diǎn)Ti，如圖4.1-13所示。其切線斜率為1/R0xdTP/dt（a為試樣盤...2021-01-21
差示掃描量熱法的影響因素與差熱分析基本類似，由于它用于定量測定，因此實(shí)驗(yàn)因素的影響顯得更為重要，其主要的影響因素大致有下列幾方面：①實(shí)驗(yàn)條件的影響，包括程序升溫速率和所通氣體的性質(zhì)。氣體性質(zhì)涉及氣體的氧化還原性、惰性、熱導(dǎo)性和氣體處于靜態(tài)還是動(dòng)態(tài)。②試樣特性的影響，包括試樣用量、粒度、裝填情況、試樣的稀釋和試樣的熱歷史條件等；③參比物特性的影響，包括參比物用量、參比物的熱歷史條件。為了從DSC曲線獲得正確而可靠的定量數(shù)據(jù)，掌握和了解這些影響因素是十分必要的。