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2021-10-29
1、在電擊穿的同時，回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開或熔絲燒斷．但是有時也可由于閃絡(luò)、試樣充電電流、漏電或局部版電電流、設(shè)備磁化電流或誤動作而引起斷路囂跳開．因此，斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配，否則，斷路器可能會在試樣未擊穿時動作或當(dāng)試樣擊穿時斷路器不動作，這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在zuihao的條件下，也存在周圍媒質(zhì)先擊穿的情況也會發(fā)生。因此，在試驗(yàn)過程中要注意觀察和檢測這些現(xiàn)象，若發(fā)現(xiàn)媒質(zhì)擊穿，應(yīng)在報告中注明．注：對漏電檢...2021-10-28
功能陶瓷是以電、磁、聲、光、熱和力學(xué)等信息的轉(zhuǎn)換、耦合、存儲和檢測為主要特征的介質(zhì)材料，主要包括鐵電、壓電、介電、熱釋電和磁性等功能各異的陶瓷材料。它是電子信息、集成電路、移動通信和能源開發(fā)等現(xiàn)代高新技術(shù)領(lǐng)域的重要基礎(chǔ)材料。功能陶瓷及其電子元器件對信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展和綜合國力的增強(qiáng)具有重要的戰(zhàn)略意義。電子信息技術(shù)的集成化和微型化發(fā)展趨勢，推動電子技術(shù)產(chǎn)品日益向微型、輕量、薄型、多功能和高可靠的方向發(fā)展。功能陶瓷元器件多層化、片式化、集成化、模塊化和多功能化以及高性能低成本是其發(fā)展...2021-10-27
軟件功能：本系統(tǒng)基于NILabVIEW開發(fā)的操作程序；操作系統(tǒng):支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化;實(shí)時監(jiān)測:在實(shí)驗(yàn)過程中可以動態(tài)顯示試驗(yàn)曲線;數(shù)據(jù)導(dǎo)出:試驗(yàn)結(jié)果方便導(dǎo)出。實(shí)驗(yàn)報告:自定義報告名稱，并對實(shí)驗(yàn)報告進(jìn)行打印;試驗(yàn)方式:直流試驗(yàn)和交流試驗(yàn)、進(jìn)行選擇;試驗(yàn)方法:擊穿電壓、耐壓試驗(yàn)、階梯升壓等多種選擇;，參數(shù)設(shè)置:可以根據(jù)不同的試驗(yàn)方式及試驗(yàn)方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值;校準(zhǔn)功能:可針對設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)設(shè)置;支持標(biāo)準(zhǔn):支持國標(biāo)及美國標(biāo)準(zhǔn);報警功能:軟件具備電壓、電...2021-10-26
金屬本質(zhì)的影響：不同金屬由于其電子逸出功和自由電子密度不同，熱電勢也不同。溫度的影響：熱電勢與兩接點(diǎn)處的溫差成正比，如果保持冷端溫度不變，則熱電勢應(yīng)與熱端溫度成正比。合金化的影響：在形成連續(xù)固溶體時，熱電勢與濃度關(guān)系呈懸鏈?zhǔn)阶兓?guī)律。但過渡族元素往往不符合這種規(guī)律。當(dāng)合金的某一成分形成化合物時，其熱釋電會發(fā)生突變(增高或降低)。多相合金的熱電勢處于組成相的熱電勢之間。如兩相的電導(dǎo)率相近，則熱電勢與體積濃度幾乎呈直線關(guān)系。鋼的含碳量和其組織狀態(tài)對熱電勢有顯著影響，純鐵和鋼組成熱...2021-10-25
技術(shù)指標(biāo)：1.溫度范圍:室溫~1000℃2.量程范圍:0～±2000μV3.DTA精度:±0.1μV4.升溫速率:1～80℃/min5.溫度分辨率:0.1℃6.溫度度:±0.1℃7.溫度重復(fù)性:±0.1℃8.溫度控制:升溫：程序控制可根據(jù)需要進(jìn)行參數(shù)的調(diào)整降溫：風(fēng)冷程序控制可選配半導(dǎo)體冷卻系統(tǒng)、液氮冷卻系統(tǒng)等恒溫：程序控制恒溫時間設(shè)定9.爐體結(jié)構(gòu):爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu)，代替了傳統(tǒng)的升降爐體，精度高，易于操作10.氣氛控制...2021-10-22
設(shè)備參數(shù)：1、試驗(yàn)電壓：最大6000V；2、有效測量范圍：0-6KV(DC)；3、電壓測量精度：±2%；4、膜移動速度：1-5m/min連續(xù)可調(diào)；5、保護(hù)電流：0~40mA；6、樣品寬度：60~650mm(可調(diào))；7、輸入電壓：220V；8、功率：1KV。軟件功能：操作系統(tǒng)：支持XP，win7，win8系統(tǒng)，操作人性化；實(shí)時監(jiān)控：在實(shí)驗(yàn)過程中可以動態(tài)顯示電弱點(diǎn)數(shù)量、膜移動距離等；數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗(yàn)結(jié)果方便導(dǎo)出；實(shí)驗(yàn)報告：自定義報告名稱，并對實(shí)驗(yàn)報告進(jìn)行打??；試驗(yàn)方式...2021-10-22
壓電系數(shù)測試儀是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。此外，也可測量取向壓電單晶以及某些壓電器件的等效壓電d’33常數(shù)，儀器測量范圍寬，分辨率細(xì)，可靠性高，操作簡單，對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量，測量結(jié)果和極性在三位半數(shù)字面板表上直接顯示。壓電系數(shù)測試儀增加了對被測元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測波形輸出等功能，使得儀器在測量未放電的壓電元件時...
京公網(wǎng)安備11011302007502號