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基礎信息Product information
產(chǎn)品名稱:

半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號:HC-TSC

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2024-09-10

產(chǎn)品簡介:

半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)應用:廣泛應用于電力、絕緣、生物分子等材料領域,用于研究材料性能的一些關鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC電流也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。TSDC電流也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測


半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)


HC-TSC半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)經(jīng)由華測儀器多位工程師多年發(fā)展,具有強大的測試功能,設備較大支持測試電壓10kV,通過冷熱臺進行加溫與制冷,測量采用低噪聲線纜,減少測試導線的影響誤差,電極加熱采用直流電極方式加熱,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。屬于真正的國產(chǎn)自主創(chuàng)新,同時在測試功能上也增加了高阻測試、擊穿測試、可方便擴展介電溫譜、頻譜等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進行連續(xù)和高速的測量,僅用一臺HC-TSC熱刺激電流測試儀就能取代功能材料測試眾多儀器的測量功能!

TSDC熱刺激電流是介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流。基本原理是將試樣夾在兩電極之間,加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā),然后施加一個直流的極化電壓,經(jīng)過一段時間使樣品充分極化,以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向,隨后立即降溫到低溫,使各類極化“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去極化電流隨溫度的變化關系,即得到TSDC譜“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時記錄試樣經(jīng)檢流計短路的去極化電流隨溫度的變化關系,即得到TSDC譜。

HC-TSC熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)應用:廣泛應用于電力、絕緣、生物分子等材料領域,用于研究材料性能的一些關鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC電流也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。TSDC電流也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。

半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)



產(chǎn)品的優(yōu)勢:

一、消除電網(wǎng)諧波對采集精度的影響

電網(wǎng)諧波是電網(wǎng)中存在的除基波電壓、電流以外的高次諧波分量。諧波產(chǎn)生的根本原因是由于非線性負載所致。當電流流經(jīng)負載時,與所加的電壓不呈線性關系,就形成非正弦電流,從而產(chǎn)生諧波。嚴重干擾通信、計算機系統(tǒng)、高精度加工機械,檢測儀表等用電設備的使用。目前加熱裝置大都是交流加熱絲加熱。交流加熱即50Hz正弦波對加熱絲進行加熱的方式。為了解這種工頻干擾以及電網(wǎng)諧波對測量的影響,華測儀器采用了直流加熱方式進行加熱。同時加入濾波等方式以更好的減少對測量過程中的影響。大大提高測量的精度。

二、消除高溫環(huán)境下測量導線阻抗影響及內(nèi)部屏蔽

1、傳輸線受其材料及結(jié)構的影響,當傳輸弱信號時,導線內(nèi)各點電流與電壓的特性比。阻抗的不一致(不匹配)會導致測量的數(shù)據(jù)存在一定的誤差。所以在測量過程中一定要采用阻抗更匹配的測量導線;

2、測量的導線也存在著一定的阻抗及頻率響應,故縮短測量導線將極大的提高測量精度;

3、高溫環(huán)境下的測量導線無法做到更好的屏蔽,大都只做了絕緣處理,高溫導線受溫度的影響阻值變大,高溫導線因要求通過絕緣件(如陶瓷、耐火材料等)將會把一部分電容引入測量,增大測量誤差;

4、測量的方式采用三電極測量,將會起到更好的屏蔽作用。

三、優(yōu)化樣品溫度的測試方式及測量電極

1、通過平行板電極的測量原理,可以更好的說明測量的電極盡可能小,減少空間及雜散電容的影響,好的辦法是在樣品上濺射一層導電材質(zhì)。

2、因不同的材料熱晗不同,以熱電偶靠近樣品測試的溫度作為樣品的溫度同樣存在著一定的誤差。如果采用參比樣品的方式進行測量,那么樣品的溫度就是材料真實溫度。

四、強大的操作軟件

測試系統(tǒng)的軟件平臺 Huacepro ,采用labview系統(tǒng)開發(fā),符合功能材料的各項測試需求,具備強大的穩(wěn)定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復。支持最新的國際標準,兼容XP、win7、win10系統(tǒng)。多語介面:支持中文/英文 兩種語言界面;即時監(jiān)控:系統(tǒng)測試狀態(tài)即時瀏覽,無須等待;圖例管理:通過軟件中的狀態(tài)圖示,一目了然,立即對狀態(tài)說明,了解測試狀態(tài);使用權限:可設定使用者的權限,方便管理;故障狀態(tài):軟件具有設備的故障報警功能。試驗報告:自定義報表格式,一鍵打印試驗報告,可導出EXCEL、PDF格式報表。

五、支持的硬件

1、外置6517B或其它高壓直流電源

2、外置的高壓放大器(+/-100V到+/-10 kV)

3、低噪聲測試夾具

4、溫度控制器和高低溫腔體

   六、其他測試功能

  1、熱釋電測試

  2、漏電流測試

  3、用戶定義激勵波形


產(chǎn)品參數(shù):

溫度范圍:-185~600°C

控溫精度:±0.25°C

升溫斜率:10°C/min(可設定)

測試頻率:最大電壓:±10kV

加熱方式:直流電極加熱

冷卻方式:水冷

輸入電壓:AC:220V

樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm

電極材料:黃銅或銀

夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷

低溫制冷:液氮

測試功能:TSDC

數(shù)據(jù)傳輸:RS-232

設備尺寸:180mmx210mmx50mm

半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)

半導體封裝材料TSDC測試系統(tǒng)





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