本
鐵電材料測試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測量,可用于鐵電體的研究,也可作為近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)設(shè)備,同時(shí)可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測設(shè)備。該
鐵電材料測試系統(tǒng)不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流Ik等參數(shù),還可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較測量鐵電薄膜的鐵電性能。該系統(tǒng)配鐵電高壓模塊和鐵電高壓驅(qū)動模塊,可測量陶瓷材料的鐵電性能。
鐵電材料測試系統(tǒng)采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡單方便。本鐵電材料測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于儀器內(nèi)部的器件精度,比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量度。
鐵電材料測試系統(tǒng)的主要特點(diǎn):
1.超晶格材料在方波脈沖電壓激勵(lì)下的自漏電特性
2.測量記錄在薄膜樣品上施加階躍電壓時(shí)的電流響應(yīng)
3.鐵電材料的電滯回線(動態(tài)與靜態(tài))、漏電流、壓電等特性
4.在操作條件下記錄單元對電容測試芯片直接存取的仿真
5.測量小信號材料的壓電系數(shù)與介電常數(shù)
6.可與原子力顯微鏡聯(lián)用,對微區(qū)或Nanoscale的鐵電、壓電性能進(jìn)行測試