鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量,可用于鐵電體的研究,也可作為近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)設(shè)備,同時(shí)可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)設(shè)備。該鐵電性能測(cè)量系統(tǒng)不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線,還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流Ik等參數(shù),還可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試。能夠較測(cè)量鐵電薄膜的鐵電性能。該系統(tǒng)配鐵電高壓模塊和鐵電高壓驅(qū)動(dòng)模塊,可測(cè)量陶瓷材料的鐵電性能。儀器采用一體化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)測(cè)試結(jié)果全數(shù)字化,操作簡(jiǎn)單方便。本測(cè)試系統(tǒng)采用虛地模式測(cè)量電路,與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于儀器內(nèi)部的器件精度,比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量度。
鐵電材料測(cè)試系統(tǒng)綜合了頻率響應(yīng)、電壓范圍和精度于一體。系統(tǒng)配有一個(gè)快速的遲滯額定頻率250kHz的+ / - 10v, 使得薄膜和散裝陶瓷的測(cè)試變得快速和簡(jiǎn)單。無需改變測(cè)試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IC,IV的測(cè)試。配備額外的模塊,可實(shí)現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測(cè)試。
可實(shí)現(xiàn)的測(cè)試功能:
1.電滯回線測(cè)試;
2.記憶特性測(cè)試;
3.漏電流測(cè)試;
4.疲勞測(cè)試;
5.脈沖測(cè)試;
6.IV測(cè)試;
7.CV測(cè)試保持力測(cè)試;
8.印痕測(cè)試。